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飛納掃描電鏡的三頭六臂之顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)

 更新時間:2020-02-14 點(diǎn)擊量:1854

飛納掃描電鏡以的微觀檢測能力被大家熟知,簡單的操作、方便的測樣、快速的成像以及友好的界面為飛納帶來了不少粉絲。其實(shí),飛納電鏡除了強(qiáng)大的微觀檢測能力之外,它也有許多實(shí)用的可拓展功能。飛納電鏡的這些“三頭六臂”讓客戶在進(jìn)行微觀分析時如虎添翼,今天就來談一談其中被很多人關(guān)注的 顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)。

 

   

 

在檢測粉末樣品時,除了形貌觀察,我們有時還有統(tǒng)計其粒徑、圓度等的需求。如果我們依靠人工手動測量統(tǒng)計,會耗費(fèi)很大的人力和時間。此時,如果有一款軟件能基于微觀形貌自動統(tǒng)計顆粒的具體信息,就會方便很多。

 

客戶有需求,飛納有方案 —— 顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生

 

 

 

 

原理

 

掃描電鏡只能進(jìn)行“黑白”成像,而顆粒與周圍背景 “亮度” 不一致,根據(jù)這一差異,系統(tǒng)會自動識別到顆粒。

 

檢測方式

 

可以根據(jù)客戶不同檢測需求進(jìn)行統(tǒng)計,比如融合顆粒的識別設(shè)置(圖1)、覆蓋顆粒是否統(tǒng)計(圖2)、不完整顆粒是否統(tǒng)計(圖3)、小識別顆粒尺寸(圖4)等等。

 

圖 1

 

圖 2

 

圖 3

 

圖 4

 

統(tǒng)計結(jié)果

 

顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)會把識別到的顆粒一一列出來,操作員可以根據(jù)需求可以刪除不滿意顆粒。其次,系統(tǒng)會把每一個顆粒的具體信息統(tǒng)計出來,比如面積、等效圓直徑、長軸長度、短軸長度等,全面地了解樣品。

 

 

當(dāng)獲得了滿意的統(tǒng)計結(jié)果之后,還可以根據(jù)需要生成散點(diǎn)圖、折線圖等統(tǒng)計圖表(橫縱坐標(biāo)自主確定),并自動生成統(tǒng)計報告,顆粒統(tǒng)計結(jié)果一目了然。

 

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