掃描式電子顯微鏡具備明場(chǎng)和暗場(chǎng)兩種模式
掃描式電子顯微鏡是Phenom（飛納）產(chǎn)品中zui*的型號(hào)，在繼承了Phenom（飛納）*代（G1）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成圖像、售后無(wú)憂等優(yōu)點(diǎn)的同時(shí)，電鏡分辨率和圖像質(zhì)量顯著提高。采用了壽命高達(dá)1500小時(shí)的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學(xué)顯微鏡，提高后的光學(xué)顯微鏡有聚焦功能，放大倍數(shù)在20-120倍之間，具備明場(chǎng)和暗場(chǎng)兩種模式。
掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)：
?、儆休^高的放大倍數(shù)，2-20萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào)；
?、谟泻艽蟮木吧?，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；
?、墼嚇又苽浜?jiǎn)單。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。
掃描電子顯微鏡觀測(cè)電疇是通過(guò)對(duì)樣品表面預(yù)先進(jìn)行化學(xué)腐蝕來(lái)實(shí)現(xiàn)的，由于不同極性的疇被腐蝕的程度不一樣，利用腐蝕劑可在鐵電體表面形成凹凸不平的區(qū)域從而可在顯微鏡中進(jìn)行觀察。因此，可以將樣品表面預(yù)先進(jìn)行化學(xué)腐蝕后，利用掃描電子顯微鏡圖像中的黑白襯度來(lái)判斷不同取向的電疇結(jié)構(gòu)。對(duì)不同的鐵電晶體選擇合適的腐蝕劑種類、濃度、腐蝕時(shí)間和溫度都能顯示良好的疇圖樣。掃描電子顯微鏡觀察到的PLZT材料的90°電疇。掃描電子顯微鏡與其他設(shè)備的組合以實(shí)現(xiàn)多種分析功能。
