隨著行業(yè)法規(guī)的逐步深入,工藝技術的逐漸升級,清潔度的要求也越來越高。控制產(chǎn)品清潔度的重要性和復雜性也越來越被大家所關注。
2020 年,第三屆汽車零部件清潔度控制技術峰會將帶領大家:
· 聚焦 汽車清潔度的法規(guī)和政策
· 關注 清潔度控制新工藝和新設備
· 跟蹤 關鍵零部件清潔度的要求提升和優(yōu)化
· 分享 汽車行業(yè)清潔度控制成果和經(jīng)驗
· 交流 汽車領域的清潔度新挑戰(zhàn)
· 開發(fā) 清潔度新市場
會議時間:2020 年 9 月 24 日 - 25 日
會議地點:上海金地嵐韻酒店
飛納會議報告
報告主題:
基于電鏡的汽車清潔度和鋰電清潔度自動化檢測方案 —— Particle X
報告時間:
2020 年 9 月 25 日上午 10:00-10:30
Phenom ParticleX 全自動清潔度分析系統(tǒng)集成了掃描電鏡和能譜儀,相比傳統(tǒng)的重量法和光鏡法能更有效率地監(jiān)控過程清潔度。傳統(tǒng)的方法只能提供清潔部件上大顆?;覊m和碎片的總體重量或形狀信息,而不能全面分辨顆粒的污染源。Phenom ParticleX 取代傳統(tǒng)顆粒物清潔度檢測方法,允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學成分,從而判斷出污染源。
使用自動化 SEM-EDX 解決方案實現(xiàn)粒度、形狀和化學成分的快速、便捷分析:
· 顆粒粒度分布 – 全面的顆粒粒度范圍
· 顆粒形貌分析 – 多種測量方法可供選擇
· 雜質(zhì)顆粒檢測 – 可檢測出數(shù)千顆粒中夾雜的微量雜質(zhì)顆粒
· 高分辨率成像 – 10 nm 分辨率
參加第三屆汽車零部件清潔度控制技術峰會,與飛納電鏡一起探究清潔度檢測新解決方案!
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